量測膜 – 台灣商業櫃台

薄膜膜厚量/測厚儀/Thin film - 先鋒科技-光電光學光譜儀器雷射

先鋒科技為精密光學量測各類型薄膜厚度.代理了各種光學式非接觸式膜厚量測儀(Thin film measurement)設備.以解決不同膜層的需求.光學式量測膜厚,優點在於非 ...

產品特色. 非接觸式、不破壞樣品的光干涉式膜厚計. 高精度、高再現性量測紫外到近紅外波長反射率光譜，分析多層薄膜厚度、光學常數（n:折射率、k:消光係數）.

光學膜厚量測儀主要是使用垂直的光源入射樣品，偵測反射光譜的非接觸技術，不需要任何樣本準備就可以測量厚度，適用於半透膜樣品，只需一秒鐘分析從薄膜反射 ...

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2012年9月24日 - (例如鹵化銀),測量膜厚主 ... 良,這時候便須有良好的測膜計來加以檢驗了。 ... 可分數位式(圖1)及指針式(圖2),專門量測第1 種及第2 種場合的塗膜厚度 ...

光學薄膜厚度量測技術之研究. 6 逢甲大學學生報告ePaper(2005 年). 介面之間使用反射光線極化現象的改變量測膜厚。這個過程更複雜並且將在這篇. 報告裡說明。

而橢圓儀就是藉由偵測樣品表面的反射光，來量測此改變(既反射光和入射光的振幅及相位的改變量)，以決定表面特性和薄膜的光學常數(n,k值)及膜厚。

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量測功能, 薄膜厚度、反射率、色度. 系統模式, 反射式光纖或反射式積分球（8/D, D/8Selective）. 波長範圍, 400-850nm. 量測膜厚範圍, 300-400,000 Angstrom.

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